三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x為您講述表面粗糙度的測(cè)量與標(biāo)注
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x為您講述表面粗糙度的測(cè)量與標(biāo)注
1.比較法：將被測(cè)表面和表面粗糙度樣板直接進(jìn)行比較，多用于車間，評(píng)定表面粗糙度值較大的工件。
2.光切法：利用光切原理，用雙管顯微鏡測(cè)量。 常用于測(cè)量Rz為0.5～60μm。
3.干涉法：利用光波干涉原理，用干涉顯微鏡測(cè)量?？蓽y(cè)量Rz和Ry值。
4.針描法：利用觸針直接在被測(cè)表面上輕輕劃過(guò)，從而測(cè)出表面粗糙度Ra。
5.印模法：利用石臘、低熔點(diǎn)合金或其它印模材料，壓印在被測(cè)零件表面，放在顯微鏡下間接地測(cè)量被測(cè)表面的粗糙度。適用于笨重零件及內(nèi)表面。
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x-表面粗糙度的標(biāo)注方法：
標(biāo)注時(shí)將其標(biāo)注在可見(jiàn)輪廓線、尺寸界線、引出線或它們的延長(zhǎng)線上，符號(hào)的尖端必須從材料外指向被注表面。
高度參數(shù)：當(dāng)選用Ra時(shí)，只需在代號(hào)中標(biāo)出其參數(shù)值，“Ra”本身可以省略;
當(dāng)選用Rz或Ry時(shí)，參數(shù)和參數(shù)值都應(yīng)標(biāo)出;
當(dāng)允許實(shí)測(cè)值中，超過(guò)規(guī)定值的個(gè)數(shù)少于總數(shù)的16%時(shí)，應(yīng)在圖中標(biāo)注上限值和下限值，
當(dāng)所有實(shí)測(cè)值不允許超過(guò)規(guī)定值時(shí)，應(yīng)在圖樣上標(biāo)注最大值或最小值。
取樣長(zhǎng)度：如按國(guó)標(biāo)選用，則可省略標(biāo)注;
表面加工紋理方向：指表面微觀結(jié)構(gòu)的主要方向，由所采用的加工方法或其它因素形成，必要時(shí)才規(guī)定。
